姓名：李志国
职称：教授, 博士生导师


科研项目

ULSI中铜互连线的研究 国家自然科学基金重点项目 2000.1～2002.12

电迁徙中的回流效应及回流加固技术的研究 北京市自然科学基金 1998.8～2000.12

GaAs器件金属-半导体接触可靠性研究 国防科工委 1996.1～1999.12

HBT参数退化及界面热稳定性机理的研究 国防科工委基金 1999.1～2000.12

具有扩散阻挡层的GaAs FET欧姆接触可靠性研究 国防科工委基金 1999.9～2001.8


科研成果

DB01高反压大功率晶体管 1984年获北京市优质产品奖

半导体器件（VLSI）金属化系统可靠性研究 1995年获电子部科技进步二等奖

半导体器件新型金属化系统及其可靠性研究 1996年获北京市科技进步二等奖

半导体器件金属化布线电徙动动力学研究 1999年获北京市科技进步二等奖

代表论文

《An Increase of the Electromigration Reliability of Ohmic Contacts by Enhancing Backflow Effect 》 International Reliability Physics Symposium’95，USA 1995
《An Automatic Implementation of Dynamic Electromigration Test》 proc IEEE,CMTS, Japan 1995
《Microscopy for Evaluation of SiO2 Passivation Effect on the Morphology of Al-Cu Interconnects》 IUMAS-1，Australia 1996
《GaAs MESFET中肖特基势垒接触退化机理的研究》 半导体学报 1996
《利用回流效应的新型金属化系统的研究》 半导体学报 1996
《VLSI金属化布线电徙动动力学温度相关性的研究》 半导体学报 1998
《Black方程中电流密度因子及精确测量技术的研究》 电子学报 1998
《 Temperature gradient impaction electromigration failure in VLSI metallization 》 14th Annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium,.USA,98 1998
《Carrier freeze-out strained P-Si1-xGex layer 》 1998 5th Intern. Conference on Solid-State and IC Technology Proceeding, Beijing, China 1998
《Numerical Calculation of Electromigration under Pulse Current with Joule Heating》 IEEE Transaction on Electron Devices 1999
联系方式

通讯地址： (100022) 北京工业大学电子工程学系