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清华大学航天航空学院李喜德老师介绍
清华大学 文章来源:清华大学 点击数: 更新时间:2005-12-16     
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李喜德

LI Xide

副教授


研究方向:
微/纳米力学,智能材料与结构的力学,先进的力学实验科学

_____________________________________________________________________
电话 : +86-10-62794410
传真: +86-10-62781824
E-mail: lixide@tsinghua.edu.cn
办公室: 清华大学逸夫科技楼1207
邮编: 100084

_____________________________________________________________________
  李喜德,男。1986年获得西北大学物理系激光物理专业学士学位。1989年获得西安交通大学工程力学系实验力学专业硕士学位,同年免试推荐到西安交通大学机械工程系攻读博士学位, 1992年10月获得机械制造专业博士学位。1993-95年初在中国科学技术大学力学和机械工程系固体力学方向作博士后研究。1995-98年在中国科学技术大学力学和机械工程系任教,副教授(1995);1999年4月调往清华大学工程力学系任副教授至今。曾分别作为访问学者和访问教授,在瑞典Lulea 技术大学机械工程系、香港的香港大学机械工程系等地等工作访问。目前兼任实验力学编委;Applied Optics, Optical Engineering, 力学学报、光学学报,光子学报,力学与实践等国内外十几种期刊的评审者。

  主要研究领域为激光与光学检测理论、方法和技术;结构和材料的力学性能分析;缺陷无损检测;空间和时间分辨光学检测技术和方法;微小尺度结构和器件的检测方法;光学检测中数字图像的处理和分析;实验检测设备和仪器的研究和开发。1990-95年主要从事数字相关检测理论和方法的研究,提出了斜光轴数字相关、散斑场投影相关及寻址快速相关计算等相关理论和检测方法。1995-99年主要进行电子散斑检测方法和技术研究,先后完成了载波电子散斑干涉检测技术和设备,360℃环向电子散斑干涉检测,光学干涉计算机层析(CT)和同步辐射光CT,其研究结果被刊登在Applied Optics,1998 第5期的封面上。同时在这一方面的研究还获得了国家自然科学基金委员会力学学科2000年基金结题优秀项目(该学科2000年共8项)。2000-至今主要致力于微尺度物体和结构的检测方法和技术研究;定量无损检测(QNDT)技术的研究。建立了时间序列散斑计量方法(TSPI)、多分辨干涉图缺陷分析、散斑干涉与有限元优化分析现结合的QNDT/QNDE。目前这些方法和技术已分别应用于材料与结构的力学性能分析、缺陷探测、振动与形状检测、薄膜大变形及MEMS器件和微电子封装结构的动静态力学性能检测与失效分析,所发表的多篇文章被SCI收录,在国内外引起关注。从2003年开始着重于微纳米实验力学技术和方法、多场耦合技术及机械结构成型表面的质量分析等方面的研究。共发表了50多篇期刊学术论文,申请中国发明专利两项,主持并参加了包括973、国家自然科学重点基金等在内的20余项研究项目。

  先后获得了多项学术奖励和荣誉,包括:国防预研二等奖(1998)、国家基金委优秀结题项目(2000)、1993年度国家教委博士后科学基金A等、1991年度西安交通大学科技进步奖一等、1991年度唐照千优秀青年力学者奖一等(西安交通大学)、西安交通大学优秀论文奖(1994),二等奖一项,一等奖三项等。




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近期代表性论著:
Comparison between instantaneous and integral intensities in dynamic speckle pattern interferometry, Optics & Laser Technology, 35(3): 203-212 (2003), by: Li X

High-Precision Large Deflection Measurements of Thin Films Using Time Sequence Speckle Pattern Interferometry ultiwalled carbon nanotubes as gigahertz osillators. Measurement Science and Technology, 13(8): 1304-1310(2002), by: Li X, Soh AK, Deng B, Guo X (PDF PS)

Small cracks/cavities detection using laser

diffraction. Optical Engineering, 41(6):1295-1308 (2002), by Li X, Soh AK, Huang C, Shi H

Deformation Measurement with Temporal Speckle Pattern Interferometry, Optical Engineering, 40(2):310-317 (2001), by: Li X, Yang Y, Tao, G, Li, R

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